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Tagungen - Tagungsberichte - GDCh - DECHEMA - VDI


Tagungsberichte
3. VDI-Fachkonferenz - Prozessanalytische Messtechnik in der Chemieindustrie - 26. - 27. Februar 2013 in Frankfurt am Main
 

Tagungsbericht - Rückschau

 
 

 

Die Prozessanalytik in der Chemieindustrie -
etwa fünfzig Teilnehmer dieser 3. Fachkonferenz des VDI erhielten mit den dreizehn Vorträgen zu neuen Technologien und innovativen Weiterentwicklungen über die
Funktionale Sicherheit (SIL - SicherheitsIntegritätsLevel),
Raman-, Laser- und IR-Spektroskopie,
die pH-Messtechnik sowie
die Inline-Prozessanalyse mit Schallgeschwindigkeit
.

Der VDI hatte zu seiner nunmehr dritten Fachkonferenz zur Prozessanalytik in der Chemieindustrie eingeladen, da die

prozessanalytische Messtechnik zur Gewährleistung einer konstanten Produktqualität
und einer verbesserten Prozessführung unverzichtbar geworden ist
(Zitat VDI).

Kontaktadresse für den Tagungsband : wirth@vdi.de

 

Die hier beteiligten Firmen und Institute :
ABB, BASF SE, Bruker Optik, FhG IPM, FH Südwestfalen, HIMA Paul Hildebrandt, HS Mannheim, Process Analyser Technology, SensoTech, Sick Maihak, Uni Duisburg-Essen, Yokogawa

Die Themen der Vorträge :

  • Überblick über Prozessanalytik in Gasen - BASF SE

  • Entwicklungspotentiale der Ramanspektroskopie für die Prozessanalytik - FhG IPM

  • Quanten-Cascaden-Laser basierende Spektroskopie für die Prozessüberwachung in der chemischen Industrie - BASF SE

  • Infrarot-spektroskopische Prozessanalytik mit Schwerpunkt petrochemischer Anwendungen unter Einsatz von faser-optischen ATR-Sonden -
    FH Südwestfalen

  • Regulierungskonforme Anwendung der Chemometrie in der Prozessanalytik – Aktueller Stand der Richtlinien-Entwürfe der EMA und IEC -
    Uni Duisburg-Essen

  • Verwendung der Streulichtmesstechnik zur Prozessüberwachung - HS Mannheim

  • In-Situ FT-IR Reaktionsverfolgung unter Verwendung eines Standarddetektors - ABB

  • FT-IR- und FT-NIR Spektroskopie zur Prozessüberwachung flüssiger und fester Medien - Bruker Optik

  • Inline-Prozessanalyse mit Schallgeschwindigkeit - SensoTech

  • Einsatzmöglichkeiten und Nutzen von Differential pH-Sensoren zur Prozessregelung - Yokogawa

  • Inertisierungsüberwachung mit einem eigensicheren „TransducerType“ TDLS-Analysator - Sick Maihak

  • Prozessanalysentechnik in sicherheitsgerichteter Funktion: wie geht der Betreiber mit den Anforderungen der Sicherheits-Integritätslevel (SIL) um? - Process Analyzer Technology
  • Funktionale Sicherheit bei Betrieb und Wartung - HIMA Paul Hildebrandt

 

Überblick über Prozessanalytik in Gasen - Dr. Wolfgang Kasten, Senior Automation Manager, Fachgruppenleiter Spektroskopie, BASF SE, Ludwigshafen

Das Motto der Fachgruppe : "Von der Offline-zur Inline-Messung "

 

Die Messmethoden in der Prozessanalytik - Überblick
   
Spektroskopie und Photometrie - Multifrequenz-Photometer
  - Diodenarray-Spektrometer
NIR-Spektroskopie - Tunable Diode Laser Spektrometer TDLAS
MIR-Spektroskopie - NDIR-Photometer
  - FTIR-Spektrometer
  - Quantenkaskaden-Spektrometer
Raman-Spektroskopie - Raman-Spektrometer
THz-Spektroskopie - THz-Time-Domain-Spektrometer
Mikrowellen-Spektroskopie - Mikrowellen-Stark-Spektrometer
Massen-Spektroskopie - Magnetsektorfeld-Massenspektrometer
  - Quadupol-Massenspektrometer
Ionen-Mobilitäts-Spektroskopie - IMS
  - FAIMS
   
Gaschromatographie - Trenntechniken
  - m-GC
   
Gaswarntechnik  
Wärmetönung - Explosimeter
MIR-Einstrahl-Photometrie - IR-Sensoren
Ampèrometrie - Elektrochem. Sensoren
Wärmeleitfähigkeit - Wärmeleitfähigkeits-Detektoren (WLD)
Flammenionisation - Flammenionisations-Detektoren (FID)
Photoionisation - Photoionisations-Detektoren (PID)
b-Strahl-Ionisation - Ionisations-Kammer-Geräte (IKG)
Chemolumineszenz - Chemolumineszenz-Geräte
Farbreaktionen Chemcasetten-Band-Geräte
   
Feuchtemesstechnik  
Längenausdehnung - Haarhygrometer
Optische Reflexion - Taupunktspiegel
Kapazitiv - Aluminiumoxid-Sensor
  - Polymer-Kondensator
Elektrochemisch - Phosphorpentoxid-Sensor
Brechungsindex - Dünnschicht-Fabry-Pérot-Resonator
   
Sauerstoffmesstechnik  
Diodenlaser-Spektroskopie - TDLS-Spektrometer mit AlGaAs-Laser
Paramagnetismus - Thermomagnetische Geräte
  - Magnetomechanische Geräte
  - Magnetopneumatische Geräte
Ampèrometrie - Elektrochemidche Sonden
  - Lambda-Sonden
Fluoreszenzlöschung - Fluoreszenzoptischer Sauerstoff-Sensor
   
Staubmesstechnik  
Streulicht  
Triboelektrisch  
Elektrodynamisch  

 

 

 

 

 

 

Das 3. VDI-Fachseminar zur Prozessanalytik

Siemens AG Industry Automation

ABB Automation GmbH

Eco Physics GmbH

neoplas controll GmbH

 

 
Entwicklungspotentiale der Ramanspektroskopie für die Prozessanalytik - Dr. Carsten Bolwien, Abt. Analysen-Messsysteme,
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik (IPM),
Freiburg
 
Quanten-Cascaden-Laser basierende Spektroskopie für die Prozessüberwachung in der chemischen Industrie - Dr. Markus Nägele, Abteilungsleiter Analysentechnik,
OptoPrecision GmbH, Bremen, Dr. Michael Theuer,
Laboringenieur, Prozessanalysentechnik GTF/EB, BASF
SE, Ludwigshafen
 
Infrarot-spektroskopische Prozessanalytik mit Schwerpunkt petrochemischer Anwendungen unter Einsatz von faser-optischen ATR-Sonden - Prof. Dr. H. Michael Heise, Honorarprofessor, Fachhochschule
Südwestfalen, Interdisziplinäres Zentrum
für Lebenswissenschaften, Iserlohn
 
Regulierungskonforme Anwendung der Chemometrie in der Prozessanalytik – Aktueller Stand der Richtlinien-Entwürfe der EMA und IEC - Prof. Dr. Karl Molt, Universitätsprofessor, Fakultät
für Chemie, FB Instrumentelle Analytik, Universität
Duisburg-Essen, Essen
 
Verwendung der Streulichtmesstechnik zur Prozessüberwachung - Prof. Dr. Matthias Rädle, Institutsleiter Prozessmesstechnik
und innovative Energiesysteme, Fakultät Verfahrens-
und Chemietechnik, Hochschule Mannheim,
Mannheim
 
In-Situ FT-IR Reaktionsverfolgung unter Verwendung eines Standarddetektors - Dr. Michael Kleimann, FT-IR Spezialist, ABB Automation
GmbH, Frankfurt/Main
 
FT-IR- und FT-NIR Spektroskopie zur Prozessüberwachung flüssiger und fester Medien - Dr. Holger Lutz, Internationaler Manager Chemie &
Pharma, NIR & Prozessanalysentechnik, Bruker Optik
GmbH, Ettlingen
 
Inline-Prozessanalyse mit Schallgeschwindigkeit - Dr.-Ing. Ingo Benecke, Geschäftsführer, SensoTech
GmbH, Magdeburg
 
Einsatzmöglichkeiten und Nutzen von Differential pH-Sensoren zur Prozessregelung - Reinhard Gehrmann, Produktmanager Analyseninstrumentierung,
Yokogawa Deutschland GmbH,
Ratingen
 
Inertisierungsüberwachung mit einem eigensicheren „TransducerType“ TDLS-Analysator - Christian Kuhn, Produktmarketing Manager
Prozess analysensysteme, Analyzers Marketing & Sales,
SICK MAIHAK GmbH, Reute
 
Prozessanalysentechnik in sicherheitsgerichteter Funktion: wie geht der Betreiber mit den Anforderungen der Sicherheits-Integritätslevel (SIL) um? - Dr. Armin Weinig, Senior Consultant Process
Analyzer Technology, Leichlingen
 
Funktionale Sicherheit bei Betrieb und Wartung - Dipl. Ing. (FH) Reemt Westphal, Team Manager
Training, Schulungsabteilung VS-T, HIMA Paul
Hildebrandt GmbH + Co KG, Brühl
 
     
   



     


 

   
     
     
     

Programm

Quellennachweis : Tagungsband 3. VDI-Fachkonferenz

Ankündigung :

Die nächste Fachkonferenz
' Prozessanalytische Messtechnik in der Chemieindustrie'
wird im Februar 2014 in Frankfurt am Main
stattfinden

     

 

 

 



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