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3. VDI-Fachkonferenz - Prozessanalytische Messtechnik in der Chemieindustrie - 26. - 27. Februar 2013 in Frankfurt am Main

 

 

In-Situ FT-IR Reaktionsverfolgung unter Verwendung eines Standarddetektors
Dr. Michael Kleimann, FT-IR Spezialist, ABB Automation GmbH, Frankfurt/Main

 

Der Einsatz MIR-FTIR-Spektrometers in Kombination mit einer Lichtleitereintauchsonde (BM Rx) bietet den Vorteil direkt im Prozess und in Echtzeit Informationen über die Zusammnensetzung des Stroms oder des Batch zu erhalten ohne eine zum Teil sehr aufwendige Probennahme mit den damit verbundenen Gefahren der Kontamination des Prozessgutes durchführen zu müssen.

Die Kombination von LIchtleiter mit einem ATR-Kristall bietet den zusätzlichen Vorteil, das Gasblasen oder Partikel in der flüssigen Phase den Messvorgang nicht stören, sodass auch in dispersen oder farbigen Medien direkt gemessen werden kann.



 





























 


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