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Feststoffanalytik - Applikationen "Automatisierte Vermessung - statistische Analyse von Filtern, Micro- und Nanofasern" - Fa.LOT |
Die neueste Generation der Elektronenmikroskopie
automatisierte Vermessung und statistische Analyse von Filtern, Micro- und Nanofasern |
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PHENOM: Das kleinste und schnellste Elektronenmikroskop der Welt.
Jetzt mit FEI FIBERMETRIC Filter, Micro- und Nanofasern vollautomatisch auswerten.
Testen Sie die neueste Generation der Elektronenmikroskopie!
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• 28.09.2009 Karlsruhe • 02.10.2009 Dresden Anmeldung
• 29.09.2009 Essen • 06.10.2009 München Online
• 30.09.2009 Hamburg • 07.10.2009 Nürnberg oder
• 01.10.2009 Berlin • 08.10.2009 Darmstadt Faxformular (PDF 64 KB)
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Information Tel.: (0 61 51) 88 06- 7 76 www.lot-oriel.com/PHENOM
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Im Überblick:
• Einfache Inspektion von fast jedem Faser- oder Filtermaterial (woven und non-woven)
• Auflösung ≥ 30 nm bei max. 24.000-facher Vergrößerung
• Anzahl Fasern/Poren, Faserdicken, Faserlängen, Faserrichtungen
• Porengrößenverteilung
• Sehr hohe Messgenauigkeit auch im Sub-Mikrometerbereich
• Vollautomatische Statistik (bis zu 100.000 Messungen pro Probe in wenigen Minuten)
• Übergabe als XML-File zur weiteren statistischen Auswertung und grafischen Aufbereitung
• Wofür Sie bisher viele Stunden zur Auswertung gebraucht haben, benötigt Fibermetric
nur wenige Minuten. Eine Investition, die sich in kürzester Zeit amortisiert.
FEI Fibermetric basiert auf dem bewährten Desktop-Elektronenmikroskop PHENOM.
Das Desktop-Elektronenmikroskop PHENOM der FEI Company zeichnet sich aus durch:
• intuitive Bedienung,
• ultrakurze Probenladezeiten (< 20 Sekunden),
• einfache Probennavigation auch bei höchster Auflösung,
• Auflösung bis 30 nm bei max. 24.000-facher Vergrößerung,
• Materialkontrast zur Unterscheidung von Elementen und Darstellung von Objektformen,
• Topografiekonstrast zur Darstellung von feinsten Oberflächenstrukturen,
• 100 Mal bessere Tiefenschärfe als Lichtmikroskope,
• Blendfreie Aufnahmen von polierten, glänzenden Oberflächen.
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