Der AK Prozessanalytik auf der ProcessNet 2008
Der AK Prozessanalytik wird bei der ProcessNet 2008 zwei Sessions gestalten.
Donnerstag, 9. Oktober 2008
9:35- 12:25
Prozess-, Apparate- und Anlagentechnik
Gerätetechnik – Trends bei Prozess-Sensoren
Leitung W. Morr, Bayer Technology Services GmbH, Leverkusen/D
- Anforderungen an Feldgeräte (Conjoint Analyse)M. König, FH Ludwigshafen/D; A. Bruckner, BASF SE, Ludwigshafen/D
- Gerätekommunikation im WandelM. Pelz, Clariant Produkte (Deutschland) GmbH, Frankfurt am Main/D;S. Seintsch, BIS Prozesstechnik GmbH, Frankfurt am Main/D
- Wireless Technologien in der ProzessindustrieK. Kluger, Haan/D
Prozess-Sensoren in der Anwendung
- Monitoring of heterogeneous polymerization reactions using raman spectroscopy and/or reaction calorimetry R. Jovanovic, K.-D. Hungenberg, BASF SE, Ludwigshafen/D
- Indirect Hard Modeling zur vereinfachten Kalibrierung spektroskopischer Messtechniken in der ProduktionF. Alsmeyer, AixCAPE e.V., Aachen/D; D. Engel, W. Marquardt, RWTH Aachen/D
- Online-Analytik zur Charakterisierung von Nanopartikeln in anwendungsrelevanten Konzentrationen A. Potthoff, M. Nebelung, Fraunhofer IKTS, Dresden/D; R.E. Bräunig, Partikel-Analytik Messtechnik GmbH, Frechen/D
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